铁粉品位现场检测仪器 矿石品位现场分析仪
矿业上任何时间，地点的快速现场分析。主要应用矿山绘图、开采及矿石品位控制需要大量矿样的化
学成分数据。XRF分析是全世界认可的有效快速鉴定矿石中关键矿物质成分及含量的方法。其速度、灵活
性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿专业人员、矿石贸易用户以及矿物地质学家的
可分析元素
Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti
和Th等不少于25种元素；
技术参数
【重量】基本上重量:1.4kg，上电池后:1.5kg
【尺寸(高x宽x长)】300mm x 90mm x 220mm
【激发源】射线管靶材5种可选择 金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pb）
【电压电流与功率】大功率微型X射线管40KV、100MA、4W
【滤波器】六种可选择的滤波器根据不同的实物自动调节
【探测器】高性能高分辨率Si-Pin X射线探测器
【探测器制冷温度】 Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35
【标准片】外置316标准片；
【解析度】<180
【电源】8小时/2块锂电源及交流电源